يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن 'Al-Sherif, M.', وقت الاستعلام: 0.01s تنقيح النتائج
  1. 1
    Fault characterization and testability considerations inmulti-valued logic circuits

    Fault characterization and testability considerations inmulti-valued logic circuits حسب Abd-El-Barr, Mostafa

    منشور في 1999
    مؤلفون آخرون: "…Al-Sherif, M.…"
    احصل على النص الكامل
    احصل على النص الكامل
    article
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:

أدوات البحث: