يعرض 1 - 3 نتائج من 3 نتيجة بحث عن 'Osais, Y.E.', وقت الاستعلام: 0.01s تنقيح النتائج
  1. 1
    A static test compaction technique for combinational circuits based on independent fault clustering

    A static test compaction technique for combinational circuits based on independent fault clustering حسب Osais, Y.E.

    منشور في 2003
    احصل على النص الكامل
    احصل على النص الكامل
    article
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
  2. 2
    A class-based clustering static compaction technique for combinational circuits

    A class-based clustering static compaction technique for combinational circuits حسب El-Maleh, A.H.

    منشور في 2004
    مؤلفون آخرون: "…Osais, Y.E.…"
    احصل على النص الكامل
    احصل على النص الكامل
    article
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
  3. 3
    On test vector reordering for combinational circuits

    On test vector reordering for combinational circuits حسب El-Maleh, A.H.

    منشور في 2004
    مؤلفون آخرون: "…Osais, Y.E.…"
    احصل على النص الكامل
    احصل على النص الكامل
    article
    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:

أدوات البحث: