Transistor-Level Defect-Tolerant Techniques for Reliable Design at the Nanoscale

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Khan, Farhan (author)
مؤلفون آخرون: unknown (author)
التنسيق: masterThesis
منشور في: 2009
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://eprints.kfupm.edu.sa/id/eprint/136151/1/Farhan_Thesis.pdf
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!