An efficient test relaxation technique for combinational circuits based on critical path tracing
Reducing test data size is one of the major challenges in testing systems-on-a-chip. This can be achieved by test compaction and/or compression techniques. Having a partially specified or relaxed test set increases the effectiveness of compaction and compression techniques. In this paper, we propose...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | , |
| التنسيق: | article |
| منشور في: |
2002
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://eprints.kfupm.edu.sa/id/eprint/14723/1/14723_1.pdf https://eprints.kfupm.edu.sa/id/eprint/14723/2/14723_2.doc |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|