New fault models and efficient BIST algorithms for dual-portmemories
The testability problem of dual-port memories is investigated. A functional model is defined, and architectural modifications to enhance the testability of such chips are described. These modifications allow multiple access of memory cells for increased test speed with minimal overhead on both silic...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | , , , |
| التنسيق: | article |
| منشور في: |
1997
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://eprints.kfupm.edu.sa/id/eprint/14841/1/14841_1.pdf https://eprints.kfupm.edu.sa/id/eprint/14841/2/14841_2.doc |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
كن أول من يترك تعليقا!