X-ray absorption near edge structure investigation of vanadium-doped ZnO thin films
Abstract X-ray absorption near edge structure spectroscopy has been used to investigate the electronic and atomic structure of vanadium-doped ZnO thin films obtained by reactive plasma. The results show no sign of metallic clustering of Vatoms, +4 oxidation state of V, 4-fold coordination of Zn in t...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | , , , , |
| التنسيق: | article |
| منشور في: |
2020
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://eprints.kfupm.edu.sa/id/eprint/523/1/FaizTabetetal.pdf |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|