El-Maleh, A. H., Khursheed, S. S., & unknown. (2007). Efficient Test Compaction for Combinational Circuits Based on Fault Detection Count-Directed Clustering.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)El-Maleh, Aiman H., S. Saqib Khursheed, و unknown. Efficient Test Compaction for Combinational Circuits Based on Fault Detection Count-Directed Clustering. 2007.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)El-Maleh, Aiman H., et al. Efficient Test Compaction for Combinational Circuits Based on Fault Detection Count-Directed Clustering. 2007.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.