Efficient Test Compaction for Combinational Circuits Based on Fault Detection Count-Directed Clustering
Test compaction is an effective technique for reducing test data volume and test application time. In this paper, we present a new static test compaction technique based on test vector decomposition and clustering. Test vectors are decomposed and clustered for faults in an increasing order of faults...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | , |
| التنسيق: | article |
| منشور في: |
2007
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://eprints.kfupm.edu.sa/id/eprint/158/1/Efficient_Test_Compaction_for_Combinational_Circuits_IET2006.pdf |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|