Supplementary Figures S1-S17, and Table 1
Growth rate monitoring (Fig. S1), AFM and XRD characterizations of thin films (Figs. S2 and S3), characterization of the upper and lower interfaces of the device (Fig. S4), Statistical analysis of Ni nanocolumn size (Fig. S5), Set and Reset operations (Fig. S6), LRS and HRS testing (Fig. S7), multip...
Պահպանված է:
| Հիմնական հեղինակ: | |
|---|---|
| Այլ հեղինակներ: | , , , , , , , , , , , , , |
| Հրապարակվել է: |
2025
|
| Խորագրեր: | |
| Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|