Kernel density plots of CEO greed and corporate technological innovation.

<p>Kernel density plots of CEO greed and corporate technological innovation.</p>

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Yuanbo Hu (10142927) (author)
Další autoři: Ruiyuan Cong (22683414) (author), Ran Teng (15324251) (author), Baolong Ji (22683417) (author)
Vydáno: 2025
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!