Přeskočit na obsah
VuFind
  • Přihlásit
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
Pokročilé
  • Volatile memory test 2.
  • Vytvořit citaci
  • Zaslat SMS
  • Poslat e-mailem
  • Vytisknout
  • Exportovat záznam
    • Exportovat do RefWorks
    • Exportovat do EndNoteWeb
    • Exportovat do EndNote
  • Přidat do oblíbených
  • Trvalý odkaz
Export Ready — 
Volatile memory test 2.

Volatile memory test 2.

<p>Another single write and read over volatile memory.</p>

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: John LaRocco (21449147) (author)
Další autoři: Qudsia Tahmina (22411018) (author), Ruben Petreaca (5498228) (author), John Simonis (22411021) (author), Justin Hill (22411024) (author)
Vydáno: 2025
Témata:
Biotechnology
Biological Sciences not elsewhere classified
Information Systems not elsewhere classified
lentinula edodes </
exhibited radiation resistance
costly fabrication processes
adaptive electrical signaling
explored shiitake (<
div >< p
sustainable memristors
sustainable alternative
shiitake mycelium
retaining functionality
provide scalable
parallel processing
offers advantages
neuronal spiking
neuromorphic tasks
neuromorphic computing
memory storage
fungal memristors
fungal computers
friendly platforms
findings show
energy efficiency
earth materials
current semiconductor
bridging bioelectronics
aerospace applications
>) fungi
85 khz
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
  • Jednotky
  • Popis
  • Komentáře
  • Podobné jednotky
  • UNIMARC/MARC

Podobné jednotky

  • Volatile memory test 1.
    Autor: John LaRocco (21449147)
    Vydáno: (2025)
  • Theoretical volatile memory circuit.
    Autor: John LaRocco (21449147)
    Vydáno: (2025)
  • Volatile memory test memristive accuracy.
    Autor: John LaRocco (21449147)
    Vydáno: (2025)
  • Volatile memory test 3: cyclic memory test at 200 Hz.
    Autor: John LaRocco (21449147)
    Vydáno: (2025)
  • Volatile memory test 3: rapid cycle memory test at 700 Hz.
    Autor: John LaRocco (21449147)
    Vydáno: (2025)

Možnosti vyhledávání

  • Historie vyhledávání
  • Pokročilé vyhledávání

Objevte více

  • Procházení katalogu
  • Abecední procházení
  • Grafické procházení katalogu
  • Rezervace kurzů
  • Nové tituly v katalogu

Hledáte pomoc?

  • Tipy pro vyhledávání
  • Zeptejte se knihovníka
  • Často kladené otázky