Przejdź do treści
VuFind
  • Login
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
Wyszukiwanie zaawansowane
  • Volatile memory test 2.
  • Cytować
  • Wyślij wiadomość
  • Wyślij emailem
  • Drukuj
  • Eksportuj rekord
    • Eksportuj do RefWorks
    • Eksportuj do EndNoteWeb
    • Eksportuj do EndNote
  • Dodaj do listy ulubionych książek
  • Odnośnik bezpośredni
Volatile memory test 2.

Volatile memory test 2.

<p>Another single write and read over volatile memory.</p>

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: John LaRocco (21449147) (author)
Kolejni autorzy: Qudsia Tahmina (22411018) (author), Ruben Petreaca (5498228) (author), John Simonis (22411021) (author), Justin Hill (22411024) (author)
Wydane: 2025
Hasła przedmiotowe:
Biotechnology
Biological Sciences not elsewhere classified
Information Systems not elsewhere classified
lentinula edodes </
exhibited radiation resistance
costly fabrication processes
adaptive electrical signaling
explored shiitake (<
div >< p
sustainable memristors
sustainable alternative
shiitake mycelium
retaining functionality
provide scalable
parallel processing
offers advantages
neuronal spiking
neuromorphic tasks
neuromorphic computing
memory storage
fungal memristors
fungal computers
friendly platforms
findings show
energy efficiency
earth materials
current semiconductor
bridging bioelectronics
aerospace applications
>) fungi
85 khz
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
  • Egzemplarz
  • Opis
  • Komentarze
  • Podobne zapisy
  • Wersja MARC

Podobne zapisy

  • Volatile memory test 1.
    od: John LaRocco (21449147)
    Wydane: (2025)
  • Theoretical volatile memory circuit.
    od: John LaRocco (21449147)
    Wydane: (2025)
  • Volatile memory test memristive accuracy.
    od: John LaRocco (21449147)
    Wydane: (2025)
  • Volatile memory test 3: cyclic memory test at 200 Hz.
    od: John LaRocco (21449147)
    Wydane: (2025)
  • Volatile memory test 3: rapid cycle memory test at 700 Hz.
    od: John LaRocco (21449147)
    Wydane: (2025)

Opcje wyszukiwania

  • Historia wyszukiwania
  • Wyszukiwanie zaawansowane

Dalsze opcje

  • Przeglądaj katalog
  • Przeglądaj alfabetycznie
  • Przeglądaj kanały
  • Aparaty semestralne
  • Nowe nabytki

Pomoc

  • Wskazówka do wyszukiwania
  • Zapytaj bibliotekarza
  • Często zadawane pytania