Перейти до змісту
VuFind
  • Логін
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
Розширений
  • Volatile memory test 2.
  • Цитувати
  • Відправити по sms
  • Відправити е-поштою
  • Друк
  • Експортувати запис
    • Екпортувати в RefWorks
    • Екпортувати в EndNoteWeb
    • Екпортувати в EndNote
  • Додати у Вибране
  • Постійне посилання
Volatile memory test 2.

Volatile memory test 2.

<p>Another single write and read over volatile memory.</p>

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автор: John LaRocco (21449147) (author)
Інші автори: Qudsia Tahmina (22411018) (author), Ruben Petreaca (5498228) (author), John Simonis (22411021) (author), Justin Hill (22411024) (author)
Опубліковано: 2025
Предмети:
Biotechnology
Biological Sciences not elsewhere classified
Information Systems not elsewhere classified
lentinula edodes </
exhibited radiation resistance
costly fabrication processes
adaptive electrical signaling
explored shiitake (<
div >< p
sustainable memristors
sustainable alternative
shiitake mycelium
retaining functionality
provide scalable
parallel processing
offers advantages
neuronal spiking
neuromorphic tasks
neuromorphic computing
memory storage
fungal memristors
fungal computers
friendly platforms
findings show
energy efficiency
earth materials
current semiconductor
bridging bioelectronics
aerospace applications
>) fungi
85 khz
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
  • Примірники
  • Опис
  • Коментарі
  • Схожі ресурси
  • Службовий вигляд

Схожі ресурси

  • Volatile memory test 1.
    за авторством: John LaRocco (21449147)
    Опубліковано: (2025)
  • Theoretical volatile memory circuit.
    за авторством: John LaRocco (21449147)
    Опубліковано: (2025)
  • Volatile memory test memristive accuracy.
    за авторством: John LaRocco (21449147)
    Опубліковано: (2025)
  • Volatile memory test 3: cyclic memory test at 200 Hz.
    за авторством: John LaRocco (21449147)
    Опубліковано: (2025)
  • Volatile memory test 3: rapid cycle memory test at 700 Hz.
    за авторством: John LaRocco (21449147)
    Опубліковано: (2025)

Опції пошуку

  • Історія пошуку
  • Розширений пошук

Знайти більше

  • Перегляд каталогу
  • Перегляд за алфавітом
  • Дослідити зв'язки
  • Матеріали до курсів
  • Нові ресурси

Потрібна допомога?

  • Поради для пошуку
  • Запитати бібліотекаря
  • Часті запитання