يعرض
1 - 1
نتائج من
1
نتيجة بحث عن '
"Integrated circuits Very large scale integration Testing"
'
تخطي إلى المحتوى
نبذة
تحتاج مساعدة ؟
إرشادات حول معاملات البحث
إسأل أخصائي مكتبات
الأسئلة الشائعة
تسجيل الدخول
EN
AR
نبذة
تحتاج مساعدة ؟
إرشادات حول معاملات البحث
إسأل أخصائي مكتبات
الأسئلة الشائعة
EN
AR
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
نتائج البحث - "Integrated circuits Very large scale integration Testing"
يعرض
1 - 1
نتائج من
1
نتيجة بحث عن '
"Integrated circuits Very large scale integration Testing"
'
, وقت الاستعلام: 0.06s
تنقيح النتائج
فرز بـ
الصلة
التاريخ تنازليا
التاريخ تصاعديا
رقم الاستدعاء
المؤلف
العنوان
1
An incremental approach for test synthesis and scheduling using genetic algorithms. (c2002)
حسب
Hajar, Aouni
منشور في 2002
الموضوعات:
"…
Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
…"
احصل على النص الكامل
احصل على النص الكامل
masterThesis
أضف إلى المفضلة
محفوظ في:
أدوات البحث:
أحصل على تغذية RSS
أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني
حفظ البحث
رجوع
تنقيح النتائج
ستتم إعادة تحميل الصفحة عند تحديد منقح أو استبعاده.
التنسيق
masterThesis
نتيجة 1
1
المؤلف
Hajar, Aouni
نتيجة 1
1
سنة النشر
من:
إلى: