توثيق جمعية علم النفس الأمريكية APA (الطبعة السابعة)

Osais, Y., El-Maleh, A., & unknown. (2003). A static test compaction technique for combinational circuits based on independent fault clustering.

توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)

Osais, Y.E, A.H El-Maleh, و unknown. A Static Test Compaction Technique for Combinational Circuits Based on Independent Fault Clustering. 2003.

توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)

Osais, Y.E, et al. A Static Test Compaction Technique for Combinational Circuits Based on Independent Fault Clustering. 2003.