Al-Deeb, M. M., & unknown. (1992). A fault independent test generation method for combinational logic circuits.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Al-Deeb, Mohamed Mahdy, و unknown. A Fault Independent Test Generation Method for Combinational Logic Circuits. 1992.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Al-Deeb, Mohamed Mahdy, و unknown. A Fault Independent Test Generation Method for Combinational Logic Circuits. 1992.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.