Efficient static test compaction algorithms for combinational circuits based on test relaxation

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Osais, Yahya Esmail (author)
مؤلفون آخرون: unknown (author)
التنسيق: masterThesis
منشور في: 2003
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://eprints.kfupm.edu.sa/id/eprint/10258/1/10258.pdf
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!