Al-Sharif, M. M. M., & unknown. (1998). Fault characterization and testability considerations in multi-valued logic circuits.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Al-Sharif, Maher Mohammed Mahmoud, و unknown. Fault Characterization and Testability Considerations in Multi-valued Logic Circuits. 1998.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Al-Sharif, Maher Mohammed Mahmoud, و unknown. Fault Characterization and Testability Considerations in Multi-valued Logic Circuits. 1998.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.