Generic DFT approach for pattern sensitive faults in word-orientedmemories
The testability problem of word-oriented memories (WOMs) for pattern sensitive faults is addressed. A novel design for testability (DFT) strategy allows efficient built-in self-testing (BIST) of WOMs. By proper selection of the memory array tiling scheme, it is possible to implement O(n) BIST algori...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | , , |
| التنسيق: | article |
| منشور في: |
1996
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://eprints.kfupm.edu.sa/id/eprint/14484/1/14484_1.pdf https://eprints.kfupm.edu.sa/id/eprint/14484/2/14484_2.doc |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|