Fault characterization and testability considerations inmulti-valued logic circuits
With the growing interest and the emergence of various implementations of Multiple-Valued logic (MVL) circuits, testability issues of these circuits are becoming crucial. Fault characterization is an early step in the test generation process. It is aimed at finding fault models that best describe th...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | , , |
| التنسيق: | article |
| منشور في: |
1999
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://eprints.kfupm.edu.sa/id/eprint/14028/1/14028_1.pdf https://eprints.kfupm.edu.sa/id/eprint/14028/2/14028_2.doc |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|