Determination of the Band Gap of Metal Oxide Thin Films through Electroreflectance
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | unknown (author) |
|---|---|
| التنسيق: | masterThesis |
| منشور في: |
2020
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://eprints.kfupm.edu.sa/id/eprint/140659/1/my_thesis__ADIL_g201206880.pdf |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Band Gap Engineering of Metal Oxide (WO3, MoO3) Thin Films through Alloying with Cadmium Telluride
حسب: unknown
منشور في: (2020) -
Fabrication and Characterization of Iron Oxide Thin Films Prepared By the Thermal Oxidation of Iron.
حسب: unknown
منشور في: (2020) -
CO-SPUTTERED COPPER-DOPED ZINC OXIDE THIN FILMS
حسب: unknown
منشور في: (2020) -
The influence of hydrogen annealing and substrate temperature on the properties of RF Sputtered zinc oxide thin films
حسب: unknown
منشور في: (2020) -
STUDY OF ALUMINUM OXYNITRIDE THIN FILMS GROWN BY REACTIVE MAGNETRON SPUTTERING
حسب: unknown
منشور في: (2020)