An Evolutionary Meta-Heuristic for State Justification in Sequential Automatic Test Pattern Generation
Sequential circuit test generation using deterministic, fault-oriented algorithms is highly complex and time consuming. New approaches are needed to enhance the existing techniques, both to reduce execution time and improve fault coverage. Evolutionary algorithms have been effective in solving many...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | , , |
| التنسيق: | article |
| منشور في: |
2001
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://eprints.kfupm.edu.sa/id/eprint/150/1/Sait_EC_April1994_1.pdf |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|