A Retiming-Based Test Pattern Generator Design for Built-In Self Test of Data Path Architectures
Recently, a new Built-In Self Test (BIST) methodology based on balanced bistable sequential kernels has been proposed that reduces the area overhead and performance degradation associated with the conventional BILBO-oriented BIST methodology. This new methodology guarantees high fault coverage but r...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | , |
| التنسيق: | article |
| منشور في: |
2001
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://eprints.kfupm.edu.sa/id/eprint/138/1/A_Retiming-Based_Test_Pattern_Generator_Design_for_Built-In_Self_Test_iscas2001.pdf |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|