Concurrent BIST Synthesis and Test Scheduling Using Genetic Algorithms
This paper presents an efficient method for concurrent built-in self-test synthesis and test scheduling in high-level synthesis. The method maximizes concurrent testing of modules while performing the allocation of functional units, test registers, and interconnects. The method is based on a genetic...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | article |
| منشور في: |
2007
|
| الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10725/3538 http://dx.doi.org10.1080/1206212X.2007.11441841 http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1080/1206212X.2007.11441841 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|