On Power-Constrained System-on-chip Test Scheduling Using Precedence Relationships
This paper presents an efficient method to determine minimum SOC test schedules based on simulated annealing. The problem is solved using a partitioned testing scheme with run to completion that minimizes the number of idle test slots. The method handles SOC test scheduling with and without power co...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | conferenceObject |
| منشور في: |
2017
|
| الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10725/5459 http://dx.doi.org/10.1109/NEWCAS.2006.250936 http://libraries.lau.edu.lb/research/laur/terms-of-use/articles.php http://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/4016967/ |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
كن أول من يترك تعليقا!