A model for low-energy thick-target bremsstrahlung produced in a scanning electron microscope
Thick-target bremsstrahlung measurements were obtained for various atomic numbers and for energies between 10 and 25 keV. A Jeol JSM 6100 scanning electron microscope was used for the electron beam and a Oxford Instruments Link Si(Li) detector for the bremsstrahlung spectrum. The experimental data w...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | article |
| منشور في: |
2001
|
| الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10725/3600 http://dx.doi.org/10.1002/xrs.465 http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/xrs.465/abstract |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|