Supplementary Material

Supplementary Material

More crack distribution maps in the device, EDS line-scan SEM maps and AFM maps, device EDS maps, positive-scan J-V and other relevant data.

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Zihong Cai (12790571) (author)
مؤلفون آخرون: Yafei Wang (438443) (author), Zuchong Zhao (20760893) (author), Jiacai Liao (20760896) (author), Kai Ma (550768) (author), Junyu Lin (529231) (author), Zecheng Diao (18001161) (author), Si Ling (18512964) (author), Yuanhang Ren (536338) (author), Weiwei Xing (690172) (author), Gongbin Tang (10911644) (author), Ji Ran (20760899) (author), Zhongwei Liang (2068309) (author), Jianhui Zhang (450305) (author), Tao Zou (662198) (author), Fan Zhang (46132) (author), Meicong Wang (20760902) (author)
منشور في: 2025
الموضوعات:
Physical sciences
perovskite solar cells
antisolvent
crack
ideal factor
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
كن أول من يترك تعليقا!
يجب تسجيل دخولك أولا

مواد مشابهة