Supplementary Material
The supplementary material contains additional data and discussions regarding the cross-sectional SEM image of a growth rate calibration sample, annealed vs. un-annealed Hall pad I-V profiles, four-corner vs. mesa isolated Van Der Pauw Hall structures, AFM and DIC microscope surface analysis of all...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | , , , , , , , , |
| منشور في: |
2024
|
| الموضوعات: | |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|