Supporting Information
See the supplementary material for the XRD patterns, morphological scans, and PFM ferroelectric polarization tests of AlScN films with different Sc doping ratios; the I-V characterization curves of AlScN thin films under different Sc target sputtering powers; and the mathematical description of weig...
-д хадгалсан:
| Үндсэн зохиолч: | |
|---|---|
| Бусад зохиолчид: | , , , , , , , , |
| Хэвлэсэн: |
2025
|
| Нөхцлүүд: | |
| Шошгууд: |
Шошго нэмэх
Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!
|