From Beam Damage to Massive Reaction Amplification under the Electron Microscope: An Ionization-Induced Chain Reaction in Crystals of a Dewar Benzene
Electron microscopy in its various forms is one of the most powerful imaging and structural elucidation methods in nanotechnology where sample information is generally limited by random chemical and structural damage. Here we show how a well-selected chemical probe can be used to transform indiscrim...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | , , |
| منشور في: |
2024
|
| الموضوعات: | |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
كن أول من يترك تعليقا!