Efficient static compaction techniques for sequential circuits based on reverse-order restoration and test relaxation
The authors present efficient reverse-order-restoration (ROR)-based static test compaction techniques for synchronous sequential circuits. Unlike previous ROR techniques that rely on vector-by-vector fault-simulation-based restoration of test subsequences, the authors’ technique restores test sequen...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | , , |
| التنسيق: | article |
| منشور في: |
2006
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://eprints.kfupm.edu.sa/id/eprint/17/1/J_ElMaleh_TCAD_November2006.pdf |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|