El-Maleh, A. H., Al-Suwaiyan, A., & unknown. (2002). An Efficient Test Relaxation Technique for Combinational & Full-Scan Sequential Circuits.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)El-Maleh, Aiman H., Ali Al-Suwaiyan, و unknown. An Efficient Test Relaxation Technique for Combinational & Full-Scan Sequential Circuits. 2002.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)El-Maleh, Aiman H., et al. An Efficient Test Relaxation Technique for Combinational & Full-Scan Sequential Circuits. 2002.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.